存储器/SoC-ABI测试解决方案

超大同测能力

• 最大支持1920 DUTs同测

• 高 UPH 设计，成熟稳定，可直接量产

高精度热管理与压力控制

• 实时监测 DUT 状态、温度、压力及结露情况

• 独立控温，支持 -40℃~150℃, 控温精度 ±3℃

• 独立控压，确保接触稳定可靠，压力精度 5%

创新全自动老化测试

• 自动上下料、BIB 老化板转运、测试分选全流程自动化，无需人工干预

• 支持自动化 HTOL/LTOL、BI 测试，降低人为失误

• 关键操作留痕、生产批次绑定，全流程可追溯

• 工程与量产平台统一，快速量产导入，降低成本

高可靠自研测试系统

• 测试资源板卡可按需配置，PPMU 功能提升通道灵活性

• 自主研发，支持定制化需求

• 支持 ALPG 功能，逻辑向量深度128M

数字测试板卡（PE）

• 高密度，每块板卡128通道

• VI能力，per pin PPMU

• 每个板卡有独立的向量发生器

• 充足的向量深度，64M/pin

• 灵活的timing format，4个DriveEdge + 2个ReceiveEdge，支持多种自定义波形

• 支持ECR/DBM/LEC，支持Pattern运行中插入DC测试

• 存储测试能力，支持ALPG

电源板卡（DPS）

• 高密度，每块板卡32通道

• 高功率，每个通道具备3V/10A或5V/5A能力

• 电压电流测量能力，电流±5mA，电压±2mV

• 合路能力，最大2路Gang

• 上下电时序控制

• 强保护功能，OCP/OVP门限可设置，支持V/I Clamp，UVP欠压保护

测量板卡（ADC）

• 高密度，128通道

• 高分辨率，16bit

• 宽输入范围，±10V/±5V可选

• 低噪声，SNR ≥90dB, THD ≤-100dB,采样精度±0.1%FS