昂科技术
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泰瑞达存储器测试解决方案
泰瑞达存储器测试解决方案专为高速、精确的数据信号而设计，包括：
Magnum EPIC
泰瑞达Magnum EPIC是针对最新一代DRAM设备的高性能测试解决方案。此类设备则是5G、AI、云计算、无人驾驶、AR/VR等技术和高清图形应用的关键驱动因素。
Magnum 7H
泰瑞达针对HBM测试推出Magnum 7H平台，其速度和并行测试效率均达到行业领先水平。凭借先进的内存和逻辑测试能力，该平台支持HBM制造过程中的多个关键测试阶段：从基础裸片晶圆测试到切割前HBM测试，再到切割后HBM测试，包括内存核心测试（core test）和速度验证。
Magnum 7
泰瑞达Magnum 7平台采用智能化设计，旨在满足最新一代NAND闪存芯片测试的严苛要求。高速闪存芯片为下一代UFS和PCIe应用提供关键支持。AI革新的动力来自于海量数据，这些数据存储在高性能数据中心SSD以及新一代AI PC、笔记本电脑和移动设备上。Magnum 7的最大配置支持多达18,432个I/O通道，每个通道的速率可达5.28Gbps。
Magnum VU
泰瑞达Magnum VUy系统是一款灵活的强大测试平台，适用于所有NAND和MCP产品，包括先进的UFS;4.1、MCP和PCIe Gen5移动和汽车设备，以及ONFI/Toggle;NAND和上一代的MCP如UFS3.1、PCIe Gen4、e.MMC和eMCP。
Magnum V
泰瑞达的Magnum V系统为超高性能快闪存储器及DRAM存储器提供高产能和高并行测试效率。最高配置的Magnum V可提供多达20,480个数字通道，每个通道的数据速率高达1700 Mbps。
